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    FIB半分載網(wǎng)(Lift-Out Grids)

       由Electron Microscopy Sciences 公司制造,與已經(jīng)停產(chǎn)的Omniprobe公司產(chǎn)品完全一致的品質(zhì)。產(chǎn)品可以在納米級別進(jìn)行探測、操縱、選擇性刻蝕和沉積及制樣功能,適用于通過(guò)納米技術(shù)和半導體設備進(jìn)行的納米研究工作。

      北京海德公司銷(xiāo)售FIB半分載網(wǎng)(聚焦離子束載網(wǎng))、納米鎢探針、電鏡載網(wǎng)適配器等等產(chǎn)品,歡迎大家選購!

    訂購信息:

    貨號

    英文名稱(chēng)

    描述

    包裝

    75964-04

    COPPER 5-POST LIFT OUT GRIDS

    銅質(zhì),狹槽規格5齒針,載網(wǎng)厚度40µm

    100枚

    75964-05

    COPPER 4-POST LIFT OUT GRIDS

    銅質(zhì),狹槽規格4齒針,載網(wǎng)厚度30µm

    100枚

    75964-02

    MOLYBDENUM LIFT OUT GRIDS

    鉬質(zhì),狹槽規格3齒針。載網(wǎng)厚度30µm。

    25枚

    75964-01

    COPPER LIFT OUT GRIDS

    銅質(zhì),狹槽規格3齒針,載網(wǎng)厚度30µm

    100枚

    75964-03

    BERYLLIUM HAFT RING GRID

    鈹質(zhì),狹槽規格2mm x 0.5mm,厚度25um. 主要應用于離子刻蝕。

    10枚

    75964-06

    MO 4-POST LIFT OUT GRIDS

    鉬質(zhì),狹槽規格4齒針,載網(wǎng)厚度30µm

    25枚

     

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